
SU3800SE und SU3900SE REM
Fortschrittliche REMs für schnelle, hochwertige Bilder und automatisierte Arbeitsabläufe
Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE und SU3900SE bieten Ihnen eine Bildgebungs- und Analyselösung für ein breites Spektrum von Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, einfache Probennavigation und fortschrittliche Automatisierungsfunktionen - und damit zuverlässige, konsistente Ergebnisse für unterschiedliche Anwendungsfälle. Ganz gleich, ob Sie Standardproben oder größere industrielle Materialien bearbeiten müssen, diese REMs bieten Ihnen die Vielseitigkeit und Stabilität, die Sie für die Ziele Ihres Labors benötigen. Die SU3800SE und SU3900SE eignen sich sowohl für Forschungslabors als auch für industrielle Umgebungen und tragen dazu bei, die Zeit bis zur Datenerfassung zu verkürzen, die Produktivität zu steigern und reproduzierbare Ergebnisse zu gewährleisten.
Eigenschaften

Kann eine breite Palette von Probengrößen verarbeiten
- Sowohl die SU3800SE als auch die SU3900SE verfügen über hochbelastbare, präzise euzentrische 5-Achsen-Probentische.
- SU3900SE: Geeignet für Proben mit einem Durchmesser von bis zu 300mm, einer Höhe von 130mm und einem Gewicht von 5kg. Sie können auf allen 5 Achsen des Tisches navigieren. Ideal für die Abbildung großer, schwerer Industriematerialien, wie z. B. Automobilteile, ohne sie auf kleinere Größen zuschneiden zu müssen, was Ihnen Zeit spart. Oder Sie können mehrere Proben aufnehmen, z. B. bis zu 11 Filter mit 47mm Durchmesser für automatisierte Langzeitinspektionen.
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SU3800SE: Konzipiert für kleinere Proben mit einem Durchmesser von bis zu 200mm, einer Höhe von 80mm und einem Gewicht von 2kg. Bietet die nötige Flexibilität für die allgemeine Probenanalyse in einer Vielzahl von Bereichen.
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Ganz gleich, ob Sie mit Standard-Laborproben oder großen industriellen Materialien arbeiten, diese REMs werden Ihren Anforderungen gerecht.
Mühelose Navigation und präzise Steuerung
- Ausgestattet mit einem motorisierten, exzentrischen 5-Achsen-Tisch (X, Y, Z, Neigung und Drehung), der die volle Kontrolle über die Probenpositionierung bietet.
- Das automatisch aktivierte Anti – Kollisionsmodell gewährleistet eine sorgenfreie Navigation.
- Das fortschrittliche optische Kamerasystem deckt den gesamten Bewegungsbereich ab und ermöglicht eine präzise und einfache Navigation durch große Proben.
- Erweitern Sie Ihre Beobachtungsmöglichkeiten durch nahtlose Probennavigation, die jedes Mal eine genaue und konsistente Bildgebung gewährleistet.


Hochauflösende und automatisch ausgerichtete Bildgebung für konsistente, hochwertige Ergebnisse
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Die feldemissionsbetriebene Schottky-Optik interagiert weder magnetisch noch elektrisch mit dem Präparat. Daher bieten diese Mikroskope eine gleichbleibend hohe Abbildungsleistung für ein breites Spektrum von Proben.
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Ein variabler Druckmodus gehört zur Standardausstattung. Dieser ermöglicht die einfache Beobachtung und Hochstromanalyse von nichtleitenden Proben, ohne dass eine weitere Probenvorbereitung erforderlich ist.
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Die automatische Ausrichtungsfunktion für die Optik ist schnell und genau. So können auch unerfahrene Bediener schnell qualitativ hochwertige Ergebnisse erzielen.
Automatisierte Arbeitsabläufe geben Ihnen Zeit für andere Aufgaben
- Mit der Funktion EM Flow Creator können Sie sich wiederholende Bildgebungsaufgaben automatisieren und so die Arbeitsbelastung des Bedieners erheblich reduzieren.
- Konfigurieren Sie benutzerdefinierte Beobachtungsrezepte, die Vergrößerung, Fokus, Tischposition und vieles mehr umfassen, um konsistente, hochwertige Ergebnisse bei minimalem Eingriff Ihrerseits zu gewährleisten.
- Ideal für Labore, die ihre Effizienz optimieren und die Reproduzierbarkeit ihrer Imaging-Prozesse sicherstellen möchten.

Galerie der Anwendungen
Metalle

Bruchfläche von Eisendraht
Mikrokavitation aufgrund von duktilem Versagen ist zu erkennen.

SUS316
Es sind linienartige Kontraste zu erkennen, die auf Versetzungen hindeuten.
Elektronische Komponenten

Gedruckte Leiterplatte
Die 3D-Formen und Positionen der montierten Komponenten können mit geringer Vergrößerung/hoher Neigung betrachtet werden.

Querschnitt durch einen Keramik-Schichtkondensator
Die Zusammensetzung und der Kristallkontrast der Nickelelektroden/dielektrischen Schicht sind zu erkennen.
Organische Stoffe

Zinkoxid-Partikel
Es sind feine Partikel mit einer Größe von etwa 50 nm und 3D-Form zu sehen.

Hochentropischer Karbidfilm
Es ist eine Verteilung von Partikeln mit unterschiedlicher Zusammensetzung/Form zu erkennen.
Batterien

Kathodenmaterial einer Lithium-Ionen-Batterie
Man sieht die Verteilung der Partikel des Kathodenmaterials und des umgebenden Bindemittels.

Anodenmaterial für Lithium-Ionen-Batterien
Das Anodenmaterial der Lithium-Ionen-Batterie und das Bindemittel lassen sich mit Hilfe des statischen Spannungskontrasts eindeutig unterscheiden.
Spezifikationen
Artikel | SU3900SE/SE | SU3800SE/SE | ||
---|---|---|---|---|
Elektronen-Optik | Sekundärelektron Bildauflösung | 0,9nm@30kV | ||
2,5nm bei 1kV | ||||
1,6nm bei 1kV(*1)(*2) | ||||
Vergrößerung | 5~600,000× | |||
Elektronenkanone | ZrO/W Schottky-Emitter | |||
Beschleunigungsspannung | 0,5kV~30kV | |||
Landeschlussspannung(*1)(*2) | 0,1kV~2kV | |||
Detektoren | Standard-Detektoren | Sekundärelektronen-Detektor (SED) | ||
TOP-Detektor (TD)(*2) | ||||
41+1-Segment-Halbleiterdetektor für rückgestreute Elektronen (BSED) | ||||
Optionaler Detektor(*3) | Ultravariabler Druckdetektor (UVD) | |||
Probentisch | Tischsteuerung | 5-Achsen-Motorantrieb | ||
Beweglicher Bereich | X | 0~150mm | 0~100mm | |
Y | 0~150mm | 0~50mm | ||
Z | 3~85mm | 3~65mm | ||
T | -20~90° | |||
R | 360° | |||
Probenkammer | Montierbar Probengröße | Max. φ 300mm | Max. φ 200mm |