Features_SU3800SE_SU3900SE_1

SU3800SE und SU3900SE

Fortschrittliche SEMs für schnelle, hochwertige Bilder und automatisierte Arbeitsabläufe

Leistungsstarke, vielseitige SEMs, die für hohe Leistung, die Handhabung großer Proben und benutzerfreundliche Automatisierungsbildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie entwickelt wurden.

Warum die SU3800SE und SU3900SE wählen?

Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE und SU3900SE bieten Ihnen eine Bildgebungs- und Analyselösung für ein breites Spektrum von Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, einfache Probennavigation und fortschrittliche Automatisierungsfunktionen - und damit zuverlässige, konsistente Ergebnisse für unterschiedliche Anwendungsfälle. Ganz gleich, ob Sie Standardproben oder größere industrielle Materialien bearbeiten müssen, diese REMs bieten Ihnen die Vielseitigkeit und Stabilität, die Sie für die Ziele Ihres Labors benötigen. Die SU3800SE und SU3900SE eignen sich sowohl für Forschungslabors als auch für industrielle Umgebungen und tragen dazu bei, die Zeit bis zur Datenerfassung zu verkürzen, die Produktivität zu steigern und reproduzierbare Ergebnisse zu gewährleisten.

Merkmale und Vorteile

Spezifikationen

  SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus
Elektronen-Optik
Sekundärelektron Bildauflösung 0.9nm@30kV
2.5nm@1kV
1.6nm@1kV (*1) (*2)
Vergrößerung 5～600,000×
Elektronenkanone ZrO/W Schottky Emitter
Beschleunigungsspannung 0.5kV～30kV
Landeschlussspannung (*1) (*2) 0.1kV～2kV
Detektoren
Standard Detektoren Sekundärelektronen-Detektor (SED)
TOP-Detektor (TD) (*2)
4+1-Segment-Halbleiterdetektor für rückgestreute Elektronen (BSED)
Optionaler Detektoren (*3) Ultravariabler Druckdetektor (UVD)
Probentisch
Tischsteuerung 5-Achsen-Motorantrieb
X range 0～150mm 0～100mm
Y range 0～150mm 0～50mm
Z range 3～85mm 3～65mm
T -20～90°
R 360°
Probenkammer
Montierbar Probengröße Max. φ 300mm Max. φ 200mm

Anwendungsgalerie
Applications_SU3800SE_SU3900SE_1
Mikrokavitation aufgrund von duktilem Versagen ist zu erkennen.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_2
Es sind linienartige Kontraste zu erkennen, die auf Versetzungen hindeuten.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_3
Die 3D-Formen und Positionen der montierten Komponenten können mit geringer Vergrößerung/hoher Neigung betrachtet werden.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_4
Die Zusammensetzung und der Kristallkontrast der Nickelelektroden/dielektrischen Schicht sind zu erkennen.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_5
Es sind feine Partikel mit einer Größe von etwa 50 nm und 3D-Form zu sehen.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_6
Es ist eine Verteilung von Partikeln mit unterschiedlicher Zusammensetzung/Form zu erkennen.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_7
Man sieht die Verteilung der Partikel des Kathodenmaterials und des umgebenden Bindemittels.
Applications_SU3800SE_SU3900SE_8
Das Anodenmaterial der Lithium-Ionen-Batterie und das Bindemittel lassen sich mit Hilfe des statischen Spannungskontrasts eindeutig unterscheiden.

Kontaktieren Sie uns

Wenn Sie Hilfe bei der Auswahl des besten REM für Ihre Anforderungen benötigen oder wenn Sie Ratschläge zur Optimierung Ihrer Mikroskopie suchen, stehen Ihnen unsere Experten gerne zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns noch heute, um zu erfahren, wie das Hitachi SU3800SE/SU3900SE die Möglichkeiten Ihres Labors erweitern können.

Sprechen Sie mit einem Experten