Hitachis Welt der Elektronenmikroskopie und Probenvorbereitung

Entdecken Sie unser Angebot an Elektronenmikroskopen und Ionenstrahlsystemen, die auf Präzision und Leistung ausgelegt sind.
Verwenden Sie die Filter, um das Modell zu finden, das Ihren Anforderungen am besten entspricht.
Produktkategorie
TM4000 III
TM4000 III

Das Tischmikroskop für die schnelle und einfache REM-Bildgebung und Elementaranalyse.

Table Top / Kompakt SEM
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FlexSEM II

Kompaktes SEM mit Niedervakuumfunktion.

Table Top / Kompakt SEM
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SU3800 / SU3900 Familie

Modulare VP-SEM-Plattform, erhältlich mit zwei verschiedenen Probenkammern und zwei Arten von Elektronenoptiken.

SU3800 / SU3900 VP (FE) SEM Familie
SU8700_kein-Hintergrund
SU8700

Hochauflösendes Schottky VP FE-SEM.

Hochauflösendes Feldemissions-SEM
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SU7000

Hochauflösendes und analytisches Schottky VP FE-SEM mit großer Probenkammer.

Hochauflösendes Feldemissions-SEM
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SU8600

Hochauflösendes FE-SEM mit Kaltfeldemitter.

Hochauflösendes Feldemissions-SEM
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SU9000 II

Inlens FE-SEM und STEM

Hochauflösendes Feldemissions-SEM
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NX5000

FIB-SEM für höchste Ansprüche an TEM-Proben.

Systeme für fokussierte Ionenstrahlen
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NX2000

FIB-SEM für den Halbleitersektor mit 200-mm-Waferabdeckung.

Systeme für fokussierte Ionenstrahlen
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NX9000

FIB-SEM, optimiert für die großvolumigen 3D-Untersuchungen.

Systeme für fokussierte Ionenstrahlen
Übersicht Seite_Produkt_11
HT7800 Familie

Das voll digitale TEM / STEM für alle Anwendungen, erhältlich in 3 Modellen.

Transmissionselektronenmikroskope
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HF5000

60-200kV ETEM mit maximaler Auflösung.

Transmissionselektronenmikroskope
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ZoneSEM II

UV-Ozon-Probenreiniger für SEM.

Vorbereitung von Proben und Querschnitten
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ZoneTEM II

UV-Ozon-Probenreiniger für TEM.

Vorbereitung von Proben und Querschnitten
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IM4000 II / IM4000 II-CTC

Standard Ar+ Querschnitt und Oberflächenpolierer.

Vorbereitung von Proben und Querschnitten
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ArBlade 5000 II / IM5000 II-CTC

Ar+ Ionenpolierer mit hoher Leistung.

Vorbereitung von Proben und Querschnitten

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Einführung_SEM_TEM_FIB Vorbereitungslösungen_Hitachi-Thumbnail 760x428

Einführung von SEM-, TEM-, FIB- und Präparationslösungen von Hitachi High-Tech

Einführung_der_Hitachi_High-Tech_ArBlade_5000_Miniaturansicht760x428

Einführung des Hitachi High-Tech ArBlade 5000

Einführung_der_Hitachi_High-Tech_TM4000PlusIII_Miniaturansicht760x428

Wir stellen den Hitachi High-Tech TM4000PlusIII vor

SU8600 Video Bildschirmfoto

Wir stellen vor: Hitachi High-Tech CFE - SEM SU8600

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