Verstehen Sie Strukturen und Materialien im Nanomaßstab

Die Leistung und Flexibilität eines vollwertigen Rasterelektronenmikroskops (REM) in einem kompakten, benutzerfreundlichen Design. Perfekt für detaillierte Analysen mit der Einfachheit eines Table Top / Kompakt REM

Maximieren Sie Ihre Produktivität mit automatisierten Tools, die sich wiederholende Aufgaben erledigen und mit minimalem Aufwand konsistente, reproduzierbare Ergebnisse liefern.

Erleben Sie Präzision im Nanobereich und leistungsstarke Analysen mit unseren hochauflösenden Mikroskopen. Diese FE-REMs sind sowohl mit Schottky- als auch mit Kaltfeld-Emittern ausgestattet.

Unsere FIB-REMs wurden für fortschrittliche Anwendungen entwickelt und bieten unvergleichliche Möglichkeiten zur Untersuchung selbst der komplexesten Materialien.

Benutzerfreundliche TEM- und STEM-Systeme für die detaillierte strukturelle und chemische Analyse von Nanomaterialien, Halbleitern, Energietechnologien, Polymeren und mehr.

Mit unseren Probenvorbereitungsgeräten, die selbst die fortschrittlichsten Mikroskopietechniken optimieren, erzielen Sie Ergebnisse von höchster Qualität.