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SU8600

Feld-Emissions-SEM

Ultrahochauflösendes FE-SEM mit Kaltfeldemitter

Warum Der SU8600

Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, erhöhte Systemstabilität, effiziente Arbeitsabläufe für Anwender aller Erfahrungsstufen und vieles mehr.

Eigenschaften

Spezifikationen

Elektronen-Optik
Sekundärelektronen Bildauflösung 0.6 nm @ 15 kV, 0.7nm @ 1kV
Vergrößerung 20 to 2,000,000x
Beschleunigungsspannung 0.5 to 30 kV
Landeschlussspannung 0,01 bis 20 kV
Probentisch
Tischsteuerung 5-Achsen-Motorantrieb
X/Y/Z Bereich 0–110 mm / 1.5–40 mm
T -5° to 70°
R 360°
Standard-Detektoren
Standard-Detektoren Optionaler Detektor
Oberer Detektor (UD) Top Detektor (TD)

In Spalten Mitteldetektor (IMD)

Fotodiode BSE (PD-BSE)

Out-Column Kristall-BSED (OCD)

Hellfeld TE (BFSTEM)

Dunkelfeld TE (DFSTEM)

Kathodolumineszenz-Detektor (CLD)

EDX, EBSD
Untere Detector (LD)  
Optionales Zubehör EDX and EBSD

Galerie der Anwendungen
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Applications_SU8600_2

Selbstorganisierende magnetische Eisenoxid-Nanopartikel

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Applications_SU8600_4

Ultrastruktur von Arabidopsis

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Applications_SU8600_6

Querschnittsbilder von 3D-NAND

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Wenn Sie Hilfe bei der Auswahl des besten REM für Ihre Anforderungen benötigen oder wenn Sie Ratschläge zur Optimierung Ihrer Mikroskopie suchen, stehen Ihnen unsere Experten gerne zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns noch heute, um zu erfahren, wie die Hitachi SU8600 die Möglichkeiten Ihres Labors erweitern kann.

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