Hitachi High-Tech Europa | ArBlade 5000

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WARUM DAS ARBLADE 5000 WÄHLEN?

Mit dem hochentwickelten Hochleistungs Ar+ Ionenpolierer von Hitachi können kundenspezifische Querschnitte von bis zu 10mm Breite (oder 40mm mit Spezial Equipment) hergestellt werden. Es verbessert auch vorpolierte Oberflächen von Proben, die mit herkömmlichen Mitteln (wie Polieren, Schleifen und Schneiden) oft schwer zu bearbeiten sind.

Leistung

Individuelle, gleichmäßige Querschnitte mit einer Breite von bis zu 10mm können bearbeitet werden
Endpolitur, z.B. für EBSD, durch Oberflächenpolitur (FlatMilling) oder zum Kontrastieren durch Relief-Flatmilling
Poliergeschwindigkeiten mit robuster Ionenquelle
Konstante Ionenstrahlemission bei einer Beschleunigungsspannung von unter 1kV
Ermöglicht das einfache Feinpolieren von empfindlichen Materialien

IM1

Erfassen1

Einfache Handhabung der Proben

Polierposition kann jederzeit nachjustiert werden, ohne dass die Probe ummontiert werden muss
Ex-situ-Ausrichtung von Maske und Querschnittsbereich macht das Einrichten schnell und einfach
In Harz eingebettete Proben mit einer Höhe von bis zu 25mm und einem Durchmesser von 50mm können für die Endpolitur geladen werden

Einfache Bedienung

Einfache Wartung und Einrichtung mit einer einzigen Ionenstrahlquelle
Ein einziger Knopfdruck genügt, um einen Prozess zu starten
Programmierbare, mehrstufige Prozesse

Erfassen2

Erweiterungsfähigkeit

Cryokühlung ermöglicht Querschnitte an wärmeempfindlichen Materialien
Automatische Bearbeitung von mehreren Positionen, Rezeptverwaltung und Erstellung von Arbeitsabläufen
Behandlung oxidationsempfindlicher Proben (z. B. LiB-Elektroden) ohne Kontakt mit Luft

Beschreibung
Verwendetes Gas	Ar(Argon)-Gas
Beschleunigungsspannung	0 bis 8kV
Querschnittspräparation
Maximale Geschwindigkeit (Material: Si)	≥ 1 ^mm/h*1
Maximale Breite	10mm (bei Verwendung eines großflächigen Querschnittsprobenhaltersrd)
Maximale Probengröße	20(B) × 12(T) × 7(H)mm
Bewegungsbereich der Probe	X ±7mm, Y 0 bis +3mm
Ionenstrahl intermittierende Bestrahlung	Standard-Funktion
Schwenkwinkel	±15°, ±30°, ±40°
Flatmilling
Bereich	φ32mm
Maximale Probengröße	φ50 × 25(H)mm
Bewegungsbereich der Probe	X 0 bis +5mm
Ionenstrahl intermittierende Bestrahlung	Standard-Funktion
Rotationsgeschwindigkeit	1 U/min, 25 U/min
Neigung	0 bis 90°