Die heutigen EBSD-Detektoren (Electron Backscatter Diffraction) können ein Kikuchi-Muster in weniger als einer Millisekunde indizieren und bieten so schnelle Einblicke in die Beugungsstruktur kristalliner Materialien.

In Verbindung mit einem analytischen REM mit hohen Sondenströmen können Sie hochwertige EBSD-Mappings in nur wenigen Minuten aufnehmen. Das wahre Potenzial Ihrer Analyse kann jedoch durch Oberflächenverunreinigungen aufgrund von atmosphärischen Einflüssen, amorphen Oxidschichten oder Beschädigungen durch die herkömmliche mechanische Präparation beeinträchtigt werden.

In diesem Whitepaper erfahren Sie, wie das Broad Ion Beam (BIB)-Fräsen, ein innovatives Verfahren zur REM-Probenpräparation, diese Oberflächenartefakte effektiv beseitigt und die EBSD-Analyse verbessert. Laden Sie das Whitepaper herunter, um:

• Entdecken Sie, wie Broad Ion Beam (BIB) Fräsen die EBSD-Analyse verbessert
• Erfahren Sie mehr über die Verwendung von BIB mit dem Hitachi ArBlade 5000 zur Verbesserung der EBSD-Analyse einer 2-Phasen-Nickelbasis im Gusszustand
• Verstehen Sie, wie präzise BIB-Techniken Ihre Untersuchung vor und nach dem BIB-Endpolieren verbessern